Métodos de prueba
Pruebas y programación de PCB y conjuntos a nivel de componente y funcional.
A nivel de placa, la calidad de la prueba depende de la conexión. La cama de agujas, el adaptador de prueba y el encaminamiento de señales deben adaptarse al diseño, establecer un contacto reproducible y mantenerse estables durante muchos miles de ciclos.
Según la tarea, MCF combina pruebas en circuito, pruebas funcionales, boundary scan y programación flash en una sola secuencia. El resultado es más que aprobado o no aprobado: identifica la red, el componente o la función afectados.
La capacidad de prueba de un conjunto se determina durante el diseño. Por ello, evaluamos en una fase temprana los puntos de prueba, la accesibilidad, la cadena JTAG y los modelos BSDL, y definimos qué parte se cubre mediante sondas y cuál mediante boundary scan. En placas altamente integradas con poco espacio libre, esta suele ser la única forma de lograr una cobertura de prueba fiable.
Clasificación
Este método de prueba se utiliza en varias fases, cada una con requisitos diferentes para el diseño del sistema, la automatización y la documentación.
Ya sea como estación de prueba independiente o como parte de un concepto integrado que abarque varias fases del ciclo de vida, MCF configura el método para su dispositivo, volúmenes y entorno de proceso, incluidos el contacto, la tecnología de medición, el software de prueba y la documentación.