MCF Technologie GmbH
RešenjaIndustrijeBlogKompanijaKarijera
Zatražite projekat
MCFMCF Technologie GmbHFabrika za merenje i upravljanje
Pforzheimer Str. 122
76275 Ettlingen, Nemačka
+49 7243 947 56-0
info@mcf-technologie.de

Rešenja

Testiranje i automatizacijaRazvoj, obuka i servisProizvodne usluge

Kompanija

O MCF-uVizijaKvalitetPrekretniceLokacije i timPartneri
© 2026 MCF Technologie GmbH
ImpresumPolitika privatnostiOpšti uslovi poslovanja
Preciznost je naša strast!
Početna/Blog/Visokonaponsko i funkcionalno ispitivanje za Solar box
Projekti i prekretnice·30. jun 2026.·3 min čitanja

Visokonaponsko i funkcionalno ispitivanje za Solar box

Kako se visokonaponsko ispitivanje, funkcionalno ispitivanje i potpuna sledljivost mogu objediniti u jednom fleksibilnom test sistemu? Za korisnika iz solarne industrije, MCF Technologie je razvio automatizovani test sistem koji tačno ispunjava ove zahteve. Sistem je ujedno jedan od naših prvih projekata zasnovanih na novoj modularnoj platformi test sistema kiT.X, u kombinaciji sa softverom Tap.X zasnovanim na sistemu OpenTAP.

FCTAutomatizacijaTap.X
HV test system for solar connection box
Na ovoj stranici
  1. Aplikacija za testiranje sa jedinstvenim izazovima
  2. Visokonaponsko i funkcionalno ispitivanje u jednom test sistemu
  3. Integrisana inspekcija kamerom i inteligentno vođenje operatera
  4. kiT.X i Tap.X – modularni hardver susreće otvorenu automatizaciju testiranja
  5. Više od 100 varijanti proizvoda – kupac njima upravlja samostalno
  6. Potpuna sledljivost podataka i rezultata ispitivanja
  7. Rešenje spremno za buduće složene zahteve ispitivanja

Aplikacija za testiranje sa jedinstvenim izazovima

Solarne priključne kutije moraju da ispune zahtevne kriterijume u pogledu električne bezbednosti, funkcionalnosti i kvaliteta. Naročito kada je reč o velikom broju varijanti proizvoda, pouzdana i fleksibilna rešenja za testiranje su od suštinskog značaja.

Glavni izazov ovog projekta bio je objedinjavanje više metoda električnog testiranja u jednom sistemu. Pored testiranja visokim naponom i testiranja izolacije, sistem je morao da obavlja sveobuhvatno funkcionalno testiranje i testiranje kontinuiteta.

Jedan od ključnih tehničkih izazova bio je to što je testiranje visokim naponom i funkcionalno testiranje moralo da se obavlja na istim kontaktnim tačkama.

Da bi to postigao, MCF Technologie je razvio sofisticirani automatizovani sistem za preklapanje koji, u zavisnosti od sekvence ispitivanja, dinamički povezuje potrebne instrumente za ispitivanje i merenje sa različitim kontaktnim tačkama i električnim potencijalima.

Ova fleksibilna arhitektura za preklapanje omogućava da više metoda ispitivanja koristi iste priključke proizvoda, bez potrebe da rukovalac ručno ponovo povezuje kablove između ispitivanja.

Visokonaponsko i funkcionalno ispitivanje u jednom test sistemu

Razvijeni test sistem objedinjuje više metoda ispitivanja u okviru jednog automatizovanog procesa:

Visokonaponsko ispitivanje (HV): Provera dielektrične izdržljivosti između različitih ispitnih tačaka i električnih potencijala.

Ispitivanje izolacionog otpora: Merenje izolacionog otpora radi procene integriteta električne izolacije.

Funkcionalno testiranje (FCT): Provera električne funkcionalnosti solarne priključne kutije.

Testiranje kontinuiteta: Detekcija grešaka u ožičenju, otvorenih strujnih kola i neispravnih električnih veza.

Integrisani sistem za preklapanje automatski upravlja vezama između mernih instrumenata, kontaktnih tačaka i različitih konfiguracija za testiranje.

Dodatna prednost je fleksibilno povezivanje uređaja koji se testiraju (DUT) putem zamenljivih kablovskih snopova. To omogućava testiranje različitih varijanti proizvoda pomoću istog sistema.

Integrisana inspekcija kamerom i inteligentno vođenje operatera

Pored električnog testiranja, sistem poseduje integrisanu kameru koja tokom procesa testiranja obavlja nekoliko važnih zadataka.

Kao prvo, kamera snima solarne priključne kutije kako bi dokumentovala njihovo stanje u trenutku testiranja i obezbedila vizuelni dokaz o pregledanom stanju proizvoda pre isporuke.

Kao drugo, kamera omogućava automatsku detekciju aktiviranih prekidača, čime se ova stanja mogu identifikovati i uzeti u obzir u okviru ukupnog rezultata testa.

Radi bezbednog i ergonomskog rada, sistem je opremljen i svetlosnom zavesom za nadzor pristupa području testiranja.

Dodatni displej, postavljen neposredno na radnom mestu operatera, pruža jasne smernice tokom celog procesa testiranja. Zahtevane radnje, uputstva i poruke o statusu prikazuju se tačno tamo gde su potrebne.

Proizvodi se automatski identifikuju skeniranjem bar-koda, što sistemu omogućava da prepozna svaki DUT i izabere odgovarajuću sekvencu testiranja.

kiT.X i Tap.X – modularni hardver susreće otvorenu automatizaciju testiranja

Ovaj testni sistem spada među prve aplikacije koje je MCF Technologie razvila na našoj novoj modularnoj kiT.X platformi testnog sistema.

kiT.X pruža fleksibilnu hardversku osnovu koja omogućava integraciju različitih mernih instrumenata, modula za preklapanje, interfejsa i komponenti za automatizaciju.

Za softversku automatizaciju testiranja, MCF Technologie se oslanja na Tap.X, platformu za automatizaciju testiranja koju je razvila kompanija TapX Software GmbH i koja se zasniva na okviru otvorenog koda OpenTAP.

Kao zvanični partner kompanije Tap.X, MCF Technologie integriše ovaj softver u svoje prilagođene testne sisteme i tako stvara kompletno rešenje za upravljanje, izvršavanje i dokumentovanje složenih sekvenci testiranja.

Otvorena i proširiva arhitektura omogućava efikasnu primenu novih zahteva za testiranje, uz istovremeno prilagođavanje sistema promenama proizvoda i proizvodnih procesa.

Više od 100 varijanti proizvoda – kupac njima upravlja samostalno

Ključni fokus ovog projekta su dugoročna fleksibilnost i skalabilnost.

U budućnosti je predviđeno da sistem podrži više od 100 različitih varijanti proizvoda na jednoj testnoj platformi.

Posebna vrednost ovog rešenja je u tome što kupac ne mora da se oslanja na proizvođača testnog sistema za svaku novu varijantu proizvoda ili izmenu postojeće sekvence testiranja.

Korišćenjem platforme Tap.X, kupac može samostalno da kreira nove proizvode, upravlja parametrima specifičnim za proizvod i razvija ili menja pojedinačne sekvence testiranja.

Sve dok su potrebne hardverske mogućnosti dostupne, dodatne varijante proizvoda mogu da se integrišu u postojeću arhitekturu testnog sistema.

Time se značajno smanjuje trud potreban za prilagođavanje promenama proizvoda i obezbeđuje veća fleksibilnost tokom celog životnog ciklusa sistema.

Potpuna sledljivost podataka i rezultata ispitivanja

Pored pouzdanog sprovođenja ispitivanja, sveobuhvatna dokumentacija ima centralnu ulogu u ovoj primeni.

Test sistem je projektovan tako da obezbedi potpunu sledljivost procesa ispitivanja i rezultata.

Zahvaljujući jedinstvenoj identifikaciji proizvoda putem bar-koda, svi evidentirani podaci o ispitivanju mogu se povezati sa odgovarajućim uređajem koji se ispituje.

To obuhvata izvršene sekvence ispitivanja, izmerene vrednosti, rezultate ispitivanja i vizuelnu dokumentaciju zabeleženu integrisanim sistemom kamera.

Tako svaki ispitani proizvod ima sledljivu istoriju ispitivanja koja se može koristiti za obezbeđenje kvaliteta, dokumentaciju i buduće analize.

Rešenje spremno za buduće složene zahteve ispitivanja

Ovaj projekat pokazuje kako MCF Technologie objedinjuje zahtevne metode električnog ispitivanja, inteligentnu automatizaciju i fleksibilnu softversku arhitekturu u okviru jednog integrisanog test sistema.

Kombinacija naše modularne platforme kiT.X, softvera Tap.X zasnovanog na sistemu OpenTAP i prilagođene tehnologije za preklapanje i merenje stvara rešenje koje ne samo da ispunjava aktuelne zahteve ispitivanja već je projektovano i za buduće varijante proizvoda.

Da li se suočavate sa sličnim izazovima u električnom ispitivanju ili želite da automatizujete postojeće procese ispitivanja?

Kontaktirajte nas. Zajedno možemo razviti rešenje za ispitivanje prilagođeno vašim proizvodima i zahtevima.

Životni ciklus proizvoda
Proizvodnja
Metode testiranja
Ispitivanje visokim naponomEnd-of-Line testiranje
Industrija
Energetska tehnologija
Korišćene usluge
Ispitni pribor i kompleti za promenuSoftver i automatizacija testiranjaKonsalting i koncipiranje

Pročitajte više

Još objava

Vesti i saopštenja·08. septembar 2026.

MCF Technologie na sajmu electronica 2026 – Doživite modernu automatizaciju testiranja uživo

20 godina MCF-a
Vesti i saopštenja·02. april 2026.

20 godina tehnologije MCF-a i strasti prema inženjeringu

MCF OpenTAP Solution Partner
Vesti i saopštenja·01. mart 2026.

MCF pristupa programu OpenTAP Solutions Partner