Méthodes de test
Tester et programmer des circuits imprimés et des assemblages au niveau des composants et des fonctions.
Au niveau de la carte, la qualité du test dépend de la mise en contact. Le lit de clous, l’adaptateur de test et le routage des signaux doivent être adaptés au layout, assurer une mise en contact reproductible et rester stables pendant plusieurs milliers de cycles.
Selon la tâche, MCF combine le test in-circuit, le test fonctionnel, le Boundary Scan et la programmation flash en une seule séquence. Le résultat va au-delà du succès ou de l’échec : il identifie le réseau, le composant ou la fonction concerné.
La testabilité d’un assemblage est déterminée dès le layout. Nous évaluons donc dès le début les points de test, l’accessibilité, la chaîne JTAG et les modèles BSDL, puis définissons quelle partie est couverte par les sondes et laquelle par le Boundary Scan. Pour les cartes hautement intégrées disposant de peu d’espace libre, c’est souvent le seul moyen d’obtenir une couverture de test fiable.
Classification
Cette méthode de test est utilisée au cours de plusieurs phases, chacune ayant des exigences différentes en matière de conception du système, d’automatisation et de documentation.
Qu’il s’agisse d’une station de test autonome ou d’un élément d’un concept intégré couvrant plusieurs phases du cycle de vie, MCF configure la méthode pour votre appareil, vos volumes et votre environnement de production – y compris le contactage, la technologie de mesure, le logiciel de test et la documentation.